テスト設計(DFT)

テスト設計(DFT)とは?

テスト設計(DFT)は、製造中に組立されたボードの効率的で信頼性の高いテストを可能にするPCB設計実務および戦略の集合です。DFT考慮事項には、In-Circuit Testing(ICT)のための適切なテストポイントアクセスの提供、デジタルICテスト用のBoundary Scan(JTAG)チェーンの設計、Bed-of-Nails治具の互換性の確保、ファームウェアロード用のプログラミングヘッダーの配置、および組込自己テスト(BIST)機能の組み込みが含まれます。

DFTの主な利点は、製造収率を向上させ、テストコストを削減し、不具合を迅速に検出する能力です。テストポイントを戦略的に配置することにより、テスターはネットワークの電気的接続を検証し、短絡、開放、および不正なコンポーネント値を検出することができます。境界スキャン(JTAG)チェーンは、基板上の複数のICとシリアル接続でインターフェースでき、デジタルロジックの詳細なテストを可能にします。

テスト可能性設計の実装

効果的なDFTは、PCBレイアウトの早い段階で開始します。デザイナーは、テストポイント、プログラミングヘッダー、およびテストパッドの適切な配置を計画する必要があります。高密度設計では、テストアクセスと製造効率のバランスを取ることが重要です。BGA、QFPおよび他のファインピッチ部品は、内部ノードへのテストアクセスを提供するために、ビアを使用して専用テスト配線が必要な場合があります。

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